Feb 19 – 21, 2018
Max-Planck-Institut für Physik, Munich
Europe/Zurich timezone

Radiation hardness study of HV-CMOS sensors using Transient Current Technique

Feb 20, 2018, 5:00 PM
15m
Max-Planck-Institut für Physik, Munich

Max-Planck-Institut für Physik, Munich

Max-Planck-Institut für Physik (Werner-Heisenberg-Institut) Föhringer Ring 6 80805 München

Speaker

Armin Fehr (CERN, University of Bern)

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