4a Escola do Programa de Pós Graduação em Física da UERJ

Session

Curso 13: Matéria Condensada Experimental - Marcus Vinícius Colaço e Julio Tedesco

C13

7 Feb 2022, 14:00

UERJ

33. Introdução ao Método de Rietveld

Julio Cesar Tedesco (UERJ), Marcos Colaço (UERJ)

07/02/2022, 14:00

Uma das principais técnicas de caracterização de materiais é a análise de dados de difração de raios X. Fazendo jus a uma analogia muito comum com um código de barras, um difratograma de raios X apresenta um padrão único característico de cada material. Este padrão nada mais é que a coleção de perfis de reflexões das ondas de raios X incidentes nos planos cristalinos, oriundas de...