Palestrantes
Descrição
Uma das principais técnicas de caracterização de materiais é a análise de dados de difração de raios X. Fazendo uma analogia simples com um código de barras ou uma digital de um dedo, o perfil de difração de um material (difratograma) apresenta um padrão único característico. Este padrão nada mais é que a coleção de perfis do espalhamento coerente dos raios X pelo material, que formam padrões de interferência construtiva e nos dão informações sobre o ordenamento cristalino desses materiais. A principal e amplamente reconhecida ferramenta usada para compreender estes difratogramas é o Método de Refinamento Estrutural de Rietveld, ou Método de Rietveld. O método consiste em refinar (ajustar) parâmetros referentes à estrutura do material e, por sua vez, isso reflete na geração de um perfil de difração teórico que comparamos com o perfil obtido experimentalmente. Fazendo uso do método de mínimos quadrados, conseguimos entender com qual precisão o modelo teórico representa os dados experimentais, e com isso obtermos informações precisas em escala molecular destes materiais. O método de Rietveld é uma ferramenta consolidada para análise quantitativa de fases, determinação de estruturas inéditas e tem sido extensivamente utilizado nas áreas de ciência dos materiais, geologia, fármacos, etc. Para aplicação deste método, alguns aplicativos estão disponíveis, sendo alguns comerciais e outros de uso livre. Neste minicurso será ministrada uma introdução teórica e prática à técnica de difração de raios X, assim como possíveis aplicações. Desta forma, esperamos que o aluno possa ter o mínimo de informação necessária para acompanhar os exemplos que serão apresentados usando o pacote de programas Fullprof, que é gratuito e muito útil para realizar refinamento estrutural de Rietveld. O curso se destina a alunos de graduação, mestrado e doutorado que tenham interesse em análises estruturais e/ou quantitativa de fases.