3a Escola do Programa de Pós Graduação em Física da UERJ

Session

Curso 2: Difração de Raios X e Método de Rietveld

C2

10 Feb 2020, 11:05

UERJ

Conveners

Curso 2: Difração de Raios X e Método de Rietveld: parte 1

• Marcos Colaço (UERJ)
• Julio Tedesco (UERJ)
• Fabio Furlan (UFABC)

Curso 2: Difração de Raios X e Método de Rietveld: parte 2

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Curso 2: Difração de Raios X e Método de Rietveld: parte 3

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Curso 2: Difração de Raios X e Método de Rietveld: parte 4

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Curso 2: Difração de Raios X e Método de Rietveld: parte 5

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6. Introdução ao método de Rietveld

Prof. Fabio Furlan (UFABC), Prof. Julio Tedesco (UERJ), Dr Marcos Vinicius Colaço (UERJ)

Matéria Condensada Experimental

Uma das principais técnicas de caracterização de materiais é a análise de dados de difração de raios X. Fazendo jus a uma analogia muito comum com um código de barras, um difratograma de raios X apresenta um padrão único característico de cada material. Este padrão nada mais é que a coleção de perfis de reflexões das ondas de raios X incidentes nos planos cristalinos, oriundas de...