Conveners
Curso 2: Difração de Raios X e Método de Rietveld: parte 1
- Marcos Colaço (UERJ)
- Julio Tedesco (UERJ)
- Fabio Furlan (UFABC)
Curso 2: Difração de Raios X e Método de Rietveld: parte 2
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Curso 2: Difração de Raios X e Método de Rietveld: parte 3
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Curso 2: Difração de Raios X e Método de Rietveld: parte 4
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Curso 2: Difração de Raios X e Método de Rietveld: parte 5
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Prof.
Fabio Furlan
(UFABC), Prof.
Julio Tedesco
(UERJ), Dr
Marcos Vinicius Colaço
(UERJ)
Matéria Condensada Experimental
Uma das principais técnicas de caracterização de materiais é a análise de dados de difração de raios X. Fazendo jus a uma analogia muito comum com um código de barras, um difratograma de raios X apresenta um padrão único característico de cada material. Este padrão nada mais é que a coleção de perfis de reflexões das ondas de raios X incidentes nos planos cristalinos, oriundas de...
