5a Escola do Programa de Pós-Graduação em Física da UERJ

Sessão

Curso 3: Introdução à Difração de Raios X e ao Método de Rietveld - Professores Marcos Vinicius Colaço & Julio Tedesco (UERJ)

26 de fev. de 2024 11:00

PPGF - 3º andar bloco F - PAVILHÃO JOÃO LYRA FILHO (UERJ)

24. Introdução à difração de Raios X e ao método de Rietveld

Julio Tedesco (IPRJ-UERJ), Marcos Vinicius Colaço (UERJ)

26/02/2024 11:00

Uma das principais técnicas de caracterização de materiais é a análise de dados de difração de raios X. Fazendo uma analogia simples com um código de barras ou uma digital de um dedo, o perfil de difração de um material (difratograma) apresenta um padrão único característico. Este padrão nada mais é que a coleção de perfis do espalhamento coerente dos raios X pelo material, que formam padrões...