Speaker
János Lábár
(M)
Description
A transzmissziós elektronmikroszkóp (TEM) egyedülálló lehetőséget ad a nanoszerkezetű anyagok szerkezetvizsgálatára, mivel egyszerűen, vizuálisan azonosítható benne a valós térbeli (képi) és a reciprok térbeli (diffrakciós) szerkezeti információ korrelációja. A vékony (esetünkben t<=30nm) szilárd minta átvilágított területének képén határolhatjuk körbe, hogy mely térrészről rögzítünk diffrakciós felvételt. Az előadás ilyen határolt területű elektrondiffrakciós (SAED) felvételek feldolgozásával foglalkozik, megmutatva, hogy milyen információ nyerhető ki belőlük. A bemutatott példák az előadó által fejlesztett és ingyenesen közzétett számítógépes program [1] lehetőségeit és határait illusztrálják.
A TEM-ben fizikailag eltérő hatása van a sugár irányában és arra merőlegesen jelentkező szemcseméretnek. A sugár irányában növekvő méret a koherens többszörös szórás (dinamikus diffrakció) valószínűségét növeli. A sugárra merőleges (gyakorlatilag a diffraktáló síkokkal párhuzamos) méret a mért diffrakciós csúcsok kiszélesedésére van hatással. A nm-es, illetve 10nm-es mérettartományba eső sok szemcse („nanopor”) gyűrűs diffrakciójából a jelenlevő fázisok mennyiségét és az esetleges preferált orientáció erősségét határozzuk meg. Mérési protokollunk segítségével a mérőrendszer kalibrációja is egy nagyságrenddel javítható a szokásos SAED-hez képes. A módszer elvi alapjai [2], számítógépes megvalósítása [3] és egyes alkalmazási példái [4] publikációiban elérhetőek.
[1] http://www.mfa.kfki.hu/~labar/ProcDif.htm
[2] Microsc. Microanal. 14, 287–295, 2008
[3] Microsc. Microanal. 15, 20–29, 2009
[4] Microsc. Microanal. 18, 406–420, 2012
Author
János Lábár
(M)