Speaker
Edit Szilágyi
(MTA Wigner Fizikai Kutatóközpont)
Description
A LaCoO3-ot, illetve a La-helyen részben Sr-mal helyettesített származékait az elmúlt években intenzíven tanulmányozták, mivel elektron- és mágneses szerkezetük különleges vezetési tulajdonságokhoz, pl. fém-szigetelő átmenethez, vagy mágneses térben nagymértékben megnövekedett ellenálláshoz (CMR, GMR) vezethet.
Ha 30–100 nm vastag La1-xSrxCoO3 rétegeket epitaxiálisan különféle egykristályos hordozóra választunk le, akkor a rétegek tulajdonságaira a határfelületen fellépő illeszkedési hibából származó feszültség (IHF) is meghatározó. Megfelelő hordozók kiválasztásával a vékonyrétegekben húzó- és nyomófeszültség is létrehozható, és ezzel a rétegek tulajdonságai drámai módon változtathatók: az összenyomott rétegek fémesek lesznek, húzó feszültség esetén pedig szigetelők. Az IHF néhány százaléknyi különbsége több nagyságrendnyi változást okoz! Az elektromos tulajdonságok így egy külső paraméterrel hangolhatók, ami ezeket a rétegeket különösen érdekessé teszi az oxid alapú elektronika egyre fejlődő területén. A bemutatott munkában Rutherford-visszaszórással kombinált csatornahatás módszerével határozzuk meg LaAlO3 és SrTiO3 egykristályokra leválasztott epitaxiális La1-xSrxCoO3 rétegek összetételét és hibaszerkezetét, valamint az IHF hatására kialakuló deformációt.
Author
Edit Szilágyi
(MTA Wigner Fizikai Kutatóközpont)
Co-authors
Diana Rata
(Max-Planck-Institut für Chemische Physik fester Stoffe)
Endre Kótai
(MTA Wigner Fizikai Kutatóközpont)
György Vankó
(MTA Wigner FK)