L'observation et l'analyse des matériaux par Microscopie Électronique à Balayage au CERN

by Gonzalo Arnau Izquierdo (EST-SM)

Wednesday 27 Nov 2002, 16:00 → 17:00 Europe/Zurich

LHC Auditorium (CERN)

La Microscopie Électronique à Balayage (MEB), associée à l'analyse élémentaire par spectroscopie de rayons X, est très employée dans l'étude des matériaux et des surfaces. Cette technique permet de réaliser des observations morphologiques à une échelle comprise entre 10^-2 m et 10^-8 m ainsi que des analyses chimiques qualitatives et quantitatives avec une résolution spatiale de 10^-6 m.
Les examens pratiqués dans le groupe EST-SM s'effectuent à l'aide de deux microscopes électroniques à balayage équipés de micro analyseurs. Leur principe de fonctionnement ainsi que leur domaine d'utilisation seront exposés de façon accessible pour des non-spécialistes.
Ensuite les applications de la Microscopie Électronique à Balayage seront illustrées à l’aide d’exemples tirés de problèmes concrets rencontrés au CERN et soumis aux spécialistes de EST-SM-ME. Ces applications vont de la caractérisation de matériaux en passant par l’observation de composants jusqu’à l’analyse de leurs défaillances ; elles interviennent aussi bien dans les phases de développement, que dans celles de fabrication et de mise en service de ces matériaux ou composants.


Organiser(s): S. Sgobba / Division EST