Mesurer facilement - créer à peu de frais des systèmes de mesure adaptables

by Pierre SEPPEY (National Instruments Suisse)

Tuesday 11 Feb 2003, 09:00 → 12:00 Europe/Zurich

40-SS-C01 (CERN)

Vous voulez réaliser des tâches de mesure de température ou de tension assisté par ordinateur, avec un système flexible qui s'adapte aux exigences futures? Au séminaire du printemps 2003, National Instruments vous montre comment résoudre ces tâches avec une qualité et une précision de mesure optimale et à peu de frais. Sur la base d'interfaces standards tels que PCI, PCMCIA ou USB et FireWire, nous vous montrerons comment créer des applications performantes avec le matériel et les logiciels de National Instruments pour l'acquisition de données. Ces solutions sont assistées par des plates-formes de logiciel National Instruments telles que LabVIEW, DIAdem, LabWindows/CVI ou Measurement Studio. Nous vous présenterons la configuration aisée et la programmation d'instruments de mesure virtuels avec lesquels vous obtiendrez facilement et en peu de temps des résultats de mesure précis. L'architecture intégrée du logiciel National Instruments vous permet en outre de créer des solutions modifiables qui sont à tous moments adaptables aux futures exigences et tâches. Ce séminaire vous révèlera comment trouver rapidement et à peu de frais une solution pour les tâches de mesure qui doivent répondre à longue échéance aux plus hautes exigences.

Organiser(s): labview.support@cern.ch IT Division 71777