Le SPC - Statistical Process Control - dans une démarche de qualité totale

by Hakim Bourahla, Maurice Arrius, Charbel Tannous (ABW Concept)

Tuesday 4 May 2004, 14:00 → 17:00 Europe/Zurich

593-- (CERN)

Hakim Bourahla, Maurice Arrius, Charbel Tannous - ABW Concept
F-74950 SCIONZIER, France

Ce nouveau séminaire de l'Enseignement Technique sera consacré à la présentation du SPC, le Statistical Process Control. Le SPC apporte une grande efficacité dans l'amélioration de la qualité des produits. Cette méthode, permettant d'assurer une qualité optimum à l'aide d'un outil statistique, est fondée sur deux concepts de base : le suivi et le pilotage des procédés industriels par cartes de contrôle, et l'étude des capabilités des systèmes de production.

• Origine et objectifs du SPC
• Concepts du SPC : les 5 "m" (machine, main d'oeuvre, matière, méthodes et milieu) ; analyse de la dispersion ; causes communes et causes spéciales
• Capabilités : capabilité machine et capabilité procédé ; seuils et valeurs cibles des indicateurs de capabilité; capabilité "moyen de contrôle"
• Pilotage d'un processus par une carte de contrôle
• Pilotage des procédés par cartes de contrôle ; méthode de pilotage
• Interprétation des cartes de contrôle ; différentes règles du SPC
• Gérer la traçabilité du pilotage
• Applications, exemples des logiciels Q-DAS®

Langue: Français
Séminaire libre, sans inscription

Pour plus d'information, veuillez SVP visiter les pages des Séminaires de l'Enseignement Technique à l'adresse http://www.cern.ch/TechnicalTraining/special/TTseminars.asp.

Organiser(s): Gilles Trachez / AT-MAS / 73783, Davide Vitè / HR-PMD / 75141