17–19 May 2016
INFN - Sezione di Milano
Europe/Zurich timezone

The UT electronics slice test goals & preparation at Syracuse

18 May 2016, 15:00
20m
INFN - Sezione di Milano

INFN - Sezione di Milano

Aula Consiglio Via Celoria, 16 20133 Milano

Speaker

Jianchun Wang (Syracuse University (US))

Presentation materials