Feb 19 – 21, 2018
Max-Planck-Institut für Physik, Munich
Europe/Zurich timezone

Effect of thinning and backplane processing on charge collection properties of irradiated CMOS

Feb 20, 2018, 12:45 PM
15m
Max-Planck-Institut für Physik, Munich

Max-Planck-Institut für Physik, Munich

Max-Planck-Institut für Physik (Werner-Heisenberg-Institut) Föhringer Ring 6 80805 München

Speaker

Marko Mikuz (Jozef Stefan Institute (SI))

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